氧化诱导期测定仪 氧化诱导时间仪 氧化诱导期时间分析仪

WJR-200AM氧化诱导时间测定仪

氧化诱导时间测定仪产品介绍: 氧化诱导时间测定仪是在程序控制温度下，测定物质氧化诱导时间的设备，是测定管材氧化诱导期的仪器。可以自动计记录管材、材料在氮气气氛中以恒定速度加热式样及参比物，当达到温度时，气氛切换为相同流速的氧气。之后样品在该温度下恒温，直到热曲线上显示有氧化反应发生。从氧气流开始流入的时刻，到发生氧化反应的时间间隔，既为氧化诱导期。仪器可以自动记录氧化诱导期温度、时间曲线，还可测量物质与参比物之间的温度差与温度关系。自动记录描述样品与参比物之间的温度(△T)随温度或时间的变化关系。还可以检测相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

氧化诱导时间测定仪技术参数:  1. 温度范围: 室温~1150℃  2. 量程范围: 0～±2000μV  3. DTA精度: ±0.1μV  4. 升温速率: 1～60℃/min  5. 温度分辨率: 0.1℃  6. 温度准确度: ±0.1℃  7. 温度重复性: ±0.1℃  8. 温度控制: 升温：程序控制     可根据需要进行参数的调整              降温：风冷 程序控制 *可选配 半导体冷却系统、液氮冷却系统 等              恒温：程序控制     恒温时间任意设定 9. 炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精度高，易于操作 10. 气氛控制: （选配）气体流量计，气氛转换装置 11. 数据接口: RS-232串口通讯  配套数据线和操作软件 12. 主机显示: 汉字大屏液晶显示 13. 参数标准: 配有标准物,用户可自行对温度进行校正 14. 基线调整: 用户可通过基线的斜率和截距来调整基线 15. 工作电源: AC 220V  50Hz